射頻導納物位計工作原理及結構

發布日期：2020-09-02 作者：點擊：

是一種新型物位丈量外表，“導納”為電學中阻抗的倒數，它由阻性成分、容性成分、感性成分歸納而成，而“射頻”即高頻，因此射頻導納技術可以理解為用高頻丈量導納。
射頻導納物位計主要由檢測部分和變送部分組成，檢測部分包含探頭、保護套外殼等；變送部分包含振蕩緩沖電路、頻率

重錘料位計

變換及掛料處理電路、誤差批改擴大器、信號解調器、調制驅動擴大器、濾波阻尼環節、電壓限制及電壓電流轉化電路等。根據電橋原理，因為液位升高而大的電容使電橋失去平衡，同時正比于電橋不平衡度的解調器輸出電壓，經濾波擴大、輸出阻尼、電壓/電流轉化后，輸出與物位成正比的4-20mA電流信號。無論是射頻電容物位計或射頻導納物位計都能準確丈量介質的物位，但與一般射頻電容物位計相比，射頻導納物位計更適合丈量料位，因為它可以較好地處理掛料對料位丈量的影響。
寄存強導電性物料的容器，因為物料是導電的，接地址可以被以為在探頭絕緣層的外表，對變送器探頭來說僅表現為１只純電容；跟著容器排料，探桿上會產生掛料，而掛料具有阻抗，導致曾經的純電容現在變成了由電容和電阻組成的復阻抗，然后引起丈量誤差，這是因為掛料的電阻遠大于液體中的電阻而造成的，這種由電阻和電容組合而成的復合信號稱之為導納。射頻導納物位計增加了２個電路來處理檢測探頭掛料問題。
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